安全管理网

现行
导航:安全管理网>> 安全标准>> 行业标准>> 冶金>>正文

半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法

标 准 号: GB/T 42271-2022
替代情况:
发布单位: 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
起草单位: 北京天科合达半导体股份有限公司、中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟
发布日期: 2022-12-30
实施日期: 2023-04-01
点 击 数:
更新日期: 2023年02月19日
下载地址:点击这里 1011.45 KB
下载点数:30点(VIP会员免费)
内容摘要

本文件描述了半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法。
本文件适用于测量电阻率范围为 1×10 5 Ω·cm~1×1012Ω·cm的半绝缘碳化硅单晶片。

下载地址(请点击下面地址下载)
网友评论 more
创想安科网站简介会员服务广告服务业务合作提交需求会员中心在线投稿版权声明友情链接联系我们