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锗单晶位错密度的测试方法

标 准 号: GB/T 5252-2020
替代情况: 替代 GB/T 5252-2006
发布单位: 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
起草单位: 中国电子科技集团公司等
发布日期: 2020-06-02
实施日期: 2021-04-01
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更新日期: 2020年07月08日
内容摘要

本标准规定了锗单晶位错密度的测试方法。
本标准适用于、和面锗单晶位错密度的测试,测试范围为0 cm-2~100 000 cm-2。

如需帮助,请联系我们。联系电话400-6018-655。
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