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碳化硅单晶片平整度测试方法

标 准 号: GB/T 32278-2015
替代情况:
发布单位: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位: 北京天科合达蓝光半导体有限公司、中国科学院物理研究所
发布日期: 2015-12-10
实施日期: 2017-01-01
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更新日期: 2017年07月24日
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内容摘要

本标准规定了碳化硅单晶抛光片的平整度,即总厚度变化(TTV)、局部厚度变化(LTV)、弯曲度(Bow)、翘曲度(Warp)的测试方法。
本标准适用于直径为50.8mm、76.2mm、100mm,厚度0.13mm~1mm 碳化硅单晶抛光片平整度的测试。

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