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光电耦合器件低频噪声参数测试方法

标 准 号： SJ/T 11766-2020
替代情况：
发布单位： 中华人民共和国工业和信息化部
起草单位： 中国电子科技集团公司第四十四研究所
发布日期： 2020-12-09
实施日期： 2021-04-01
点 击 数：
更新日期： 2021年12月20日
下载地址：点击这里 1.28 MB
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内容摘要

本标准规定了光电耦合器件（以下简称光耦）1Hz～300kHz频率范围内噪声参数测试方法及要求。

下一篇： 挠性印制电路材料的耐挠曲性测试方法
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