本部分为GB/T15972的第40部分。本部分代替GB/T15972.4—1998《光纤总规范 第4部分:传输特性和光学特性试验方法》第4章。本标准规定了光纤的衰减特性试验方法,确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。本部分适用于对A 类多模光纤和B类单模光纤的测量和成品光纤光缆的商业性检验。本部分与GB/T15972.4—1998第4章相比主要变化如下:
———原正文中对每一种试验方法的详细描述分别用附录的形式给出(见附录A、附录B、附录C 和附录D);
———截断法A1类多模光纤的注入条件中增加了“表A.1 芯轴直径实例”(见A.1.3.1.2);
———截断法中增加了A2类、A3 类和A4 类突变型折射率分布多模光纤的注入装置和注入条件(见A.1.4);
———截断法中增加了波长应校准至±10nm 内的要求(见A.1.5);
———相关内容的叙述做了一些修改。