本部分为GB/T15972的第52部分。,本部分根据IEC60793-1-52:2001重新起草。本标准规定了评估光纤在给定环境中温度变化性能的测量方法和试验程序。适用于确定A1类多模光纤和B类光纤在实际应用、贮存或运输过程中可能发生的温度变化环境条件下的适应性能。 本部分与IEC60793-1-52:2001主要差异如下:
———适用范围由A1a至A1d类光纤改为A1类光纤,B1至B4类光纤改为B类光纤;
———最小弯曲直径150mm 改为绕圈直径应大于150mm;
———在进行基准测量前应使试验箱和试样稳定在标准大气条件下改为稳定在IEC60793-1-1:2002规定的标准大气条件下;
———在试验前后要对光纤涂覆层平均剥离力进行测量改为对光纤涂覆层剥离力进行测量;
———纠正了某些不恰当的叙述。