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半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理

标 准 号: GB/T 4937.30-2018
替代情况:
发布单位: 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
起草单位: 中国电子科技集团公司第十三研究所、深圳市标准技术研究院
发布日期: 2018-09-17
实施日期: 2019-01-01
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更新日期: 2019年06月05日
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内容摘要

本部分规定了非密封表面安装器件(SMDs)在可靠性试验前预处理的标准程序。
本部分规定了SMDs的预处理流程。
SMDs在进行规定的室内可靠性试验(鉴定/可靠性监测)前,需按本部分所规定的流程进行适当的预处理,以评估器件的长期可靠性(受焊接应力的影响)。

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