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半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动

标 准 号： GB/T 4937.12-2018
替代情况：
发布单位： 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
起草单位： 中国电子科技集团公司第十三研究所
发布日期： 2018-09-17
实施日期： 2019-01-01
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更新日期： 2019年06月05日
下载地址：点击这里 1.09 MB
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内容摘要

本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。?本试验与GB/T 2423.10-2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。

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