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微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法

标 准 号: GB/T 34893-2017
替代情况:
发布单位: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位: 中机生产力促进中心
发布日期: 2017-11-01
实施日期: 2018-05-01
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更新日期: 2018年04月15日
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内容摘要

本标准规定了基于光学干涉显微镜获取MEMS微结构表面形貌进行面内长度测量的方法。
本标准适用于表面反射率不低于4%,宽深比不低于1:10,且使用光学干涉显微镜能够获取形貌的MENS微结构。

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